东京大学微构造解析プラットフォーム
- 3.7 先進デバイス?マテリアル評価計測技術（SEM、AFM、OCD、TEMなど）
幾原 雄一
工学系研究科
教授
本プロジェクトでは、ナノ计测?分析に関する最先端の计测设备を集中的に配备?共用化し、先进半导体、ナノテクノロジー?材料分野全般の研究支援を全国规模で展开している。
东京大学微细构造解析プラットフォーム
东京大学微细构造解析プラットフォーム
プロジェクトに関する鲍搁尝
主な関连论文
- K.Takiguchi et al., “Giant gate-controlled proximity magnetoresistance in semiconductor-based ferromagnetic–non-magnetic bilayers,” Nat. Phys., 15, 1134-1139 (2019).
- T. Makita et al., “High-performance, semiconducting membrane composed of ultrathin, single-crystal organic semiconductors,” PNAS, 117, 80-85 (2020).
- A. Kumamoto et al., “Atomic structures of a liquid-phase bonded metal/nitride heterointerface,” Sci. Rep., 6, 22936 (2016).
関连する厂顿骋蝉项目
问い合わせ先
- 担当： 柴田 直哉
- 電話： 03-5841-0415
- メールアドレス： shibata[at]sigma.t.u-tokyo.ac.jp
※摆补迟闭を蔼に置き换えてください
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